[00252393]一种双光源自校正式光纤分布温度快速测量系统及方法
交易价格：
面议
所属行业：
其他电子信息
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201711157684.6
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
科小易
进入空间
所在地：福建厦门市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
一种双光源自校正式光纤分布温度快速测量系统及方法，属于光纤传感技术领域。该系统包括计算机、多通道同步扫频锁相放大器、光源驱动电路、短波长半导体激光器、长波长半导体激光器、光纤合波器、光纤耦合器、拉曼波分复用器、光探测模块和测温光纤。多通道同步扫频锁相放大器产生的两路不同频率信号分别对两个半导体激光器同时进行步进频率调制，双频互相关检测器对两种不同频率的后向拉曼散射光进行同步测量，采用非相干光频域反射技术实现快速的自校正分布温度解调。本发明在一个测量周期即可完成双光源的光纤后向散射曲线测量，比传统方法的测量时间缩减一半，为低成本、高精度和高可靠性的光纤分布温度测量提供了一种极具竞争力的技术方案。
一种双光源自校正式光纤分布温度快速测量系统及方法，属于光纤传感技术领域。该系统包括计算机、多通道同步扫频锁相放大器、光源驱动电路、短波长半导体激光器、长波长半导体激光器、光纤合波器、光纤耦合器、拉曼波分复用器、光探测模块和测温光纤。多通道同步扫频锁相放大器产生的两路不同频率信号分别对两个半导体激光器同时进行步进频率调制，双频互相关检测器对两种不同频率的后向拉曼散射光进行同步测量，采用非相干光频域反射技术实现快速的自校正分布温度解调。本发明在一个测量周期即可完成双光源的光纤后向散射曲线测量，比传统方法的测量时间缩减一半，为低成本、高精度和高可靠性的光纤分布温度测量提供了一种极具竞争力的技术方案。
