[00937857]薄膜太阳电池的准确测试技术
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技术详细介绍
该课题研制的JD06单次闪光大面积太阳模拟器解决了单次闪光方波脉冲产生的技术难题，基于电容电感（LC）网络发生5～10ms脉宽的光，在5～10ms内光强变化不到1%。它实现了对AM1.5太阳光的模拟，对太阳电池组件的九大参数和IV曲线的准确测试；实现了与光源之间距2.6米条件下被测面的光不均匀性度小于±2%，测试期间的瞬态不稳定度小于±2%，测试结果的不重复度小于0.5%。研制的JD07少子寿命分析仪解决了无损非接触测量硅材料和器件的少子寿命的技术问题，基于微波反射方法定波长测量样品的PCD曲线，理论上解决了表面复合寿命和体寿命的分离问题。它实现了对太阳电池半导体材料和器件的少子寿命的测试，并实现了少子寿命测试不重复度小于1.10%。