[00786386]超导体临界温度测定装置
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类型:
非专利
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技术详细介绍
该装置是一种用于液氮温区超导体物理参数测量的实验装置,也可用于超导材料的研究及其它低温测量。它由控温器、测量系统和真空系统组成。其核心部分控温器采用双层加热和差分热电偶监控装置,设计新颖独特,保证了样品室温度均匀,温度及变温速率可控、可调;其温度测量部分的热电偶和待测超导样品紧插在样品室内,与样品室能保持良好的热接触,从而使温度测量准确。该装置性能稳定、操作简便、成本低廉,经使用表明,其各项技术指标符合设计要求。
该装置是一种用于液氮温区超导体物理参数测量的实验装置,也可用于超导材料的研究及其它低温测量。它由控温器、测量系统和真空系统组成。其核心部分控温器采用双层加热和差分热电偶监控装置,设计新颖独特,保证了样品室温度均匀,温度及变温速率可控、可调;其温度测量部分的热电偶和待测超导样品紧插在样品室内,与样品室能保持良好的热接触,从而使温度测量准确。该装置性能稳定、操作简便、成本低廉,经使用表明,其各项技术指标符合设计要求。