[00782539]微机化数字集成电路功能测试仪
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技术详细介绍
该测试仪是测试数字集成电路逻辑功能好坏的专用微处理机系统，它由Ｚ８０ＣＰＶ、ＰＩＯ、译码器、ＥＰＲＯＭ、ＲＡＭ、显示器及键盘等构成。芯片的测试程序都固化在ＥＰＲＯＭ２７１２８中，可测试１４脚（也可少于１４脚）至２４脚的ＴＴＬ及ＣＭＯＳ的３００多种型号的数字集成电路，包括部分脉冲电路、三端式稳压块及部分ＲＡＭ、ＥＰＲＯＭ等多种芯电。测试时芯片的电源和地线是由继电器的通断来控制供给的。测试的基本原理是在待侧芯片的输入端加上“０”或“１”电平，然后测量其输出端，把测得的结果与该芯片的逻辑功能表进行比较。该测试仪器操作简便，快速可靠，体积小、价格低，可供大专院校、科研单位、集成电路生产及销售等部门广泛使用。