[00756635]4X密度磁光盘光学特性检测系统

该专题是“超高密度超大容量磁光盘产业化关键技术研究”项目中“磁光盘产业化质量检测系统研究”课题的一个关键的检测系统，是国家九五重点攻关科技项目。该光盘检测系统开创中国光盘测试领域先河，为中国光盘事业的发展起到了十分重要的作用，它不仅为光盘质量严格控制、打击盗版提供了技术保证，而且打破了国外技术封锁，建立了“中华牌”的质量测试体系。该测试系统包括两个工作平台：光学特性测试仪和反射率测试仪。1、光学特性测试仪：该测试仪可测试光盘光学特性的各种电信号、频谱覆盖0-24MHZ，同时时钟最高可达近60MHZ，系统测试精度<5%，重复性≤5%。该测试仪系统以虚拟仪器的结构为基础进行了整体设计，包括微机、驱动器平台和数据采集卡及虚拟仪器软件系统四个部分。2、反射率测试仪：对光盘片的测试满足以下指标：测量范围：0.1-0.9；测量精度：0.02；测量重复性：±5%；鉴定意见：测试系统涉及到光、机、电、算等方面的技术，研制难度大，做了大量的创造性工作。该系统在国内首次实现了对4X密度商品磁盘光学特性的全面测试，测试结果证明系统的精密度高、重复性好。该项技术填补了国内的空白，达到了当前的国际先进水平。该测试仪简易型已形成商品，由武汉新隆亿科技发展公司生产，为国内第一家。在湖北东湖光盘有限责任公司运行使用二年，能快速、准确地测试各项技术参数，及时改善生产加工工艺，控制光盘质量，降低次品率，获得较好的经济效益。同时该测试仪已用于电子科技大学光电纪录技术中心，为磁光盘的成品盘的质量检验提供保证，首次在国内实现对磁光盘光学特性的全面测试，填补国内空白，具有显著的经济与社会效益。