[00736337]高精度锗光楔微机控制测量系统
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类型:
非专利
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技术详细介绍
该项目建立了锗光楔角度微机控制测试系统。系统中包括三维转动测量装置,根据错晶体的特点,对反射的光电信号进行跟踪搜索测量,对于任意角度块以及大模角的测量可获得满意的测量结果。该方法克服了使用标准块进行修正测量的局限性。项目本身从原理及方法上论证了微机控制自动测量楔角的可行性,测量装置结构合理,目前采用开环控制,若进一步实现闭环控制,可大大提高测量精度。系统本身可直接用于锗光楔形块的角度测量,三维转动平台也可作为分度使用。具备一般机加工能力的企业,即可生产该装置,配备相关计算机系统维护人员,可实现跟踪搜索测量。
该项目建立了锗光楔角度微机控制测试系统。系统中包括三维转动测量装置,根据错晶体的特点,对反射的光电信号进行跟踪搜索测量,对于任意角度块以及大模角的测量可获得满意的测量结果。该方法克服了使用标准块进行修正测量的局限性。项目本身从原理及方法上论证了微机控制自动测量楔角的可行性,测量装置结构合理,目前采用开环控制,若进一步实现闭环控制,可大大提高测量精度。系统本身可直接用于锗光楔形块的角度测量,三维转动平台也可作为分度使用。具备一般机加工能力的企业,即可生产该装置,配备相关计算机系统维护人员,可实现跟踪搜索测量。