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[00690108]X射线残余应力断层扫描测定装置和方法

交易价格: 面议

所属行业:

类型: 非专利

交易方式: 资料待完善

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技术详细介绍

X射线波长越短或被测工件所用材料原子序数越低,入射X射线在工件中的穿透深度越深。探测来自不同深度、不同部位的衍射线,就能无损探测残余应力在工件内的三维分布。如果应力仪采用正比计数器或闪烁计数器,应配用平行限位接收狭缝;如果采用位敏探测器,应配用该项目发明的锥度限位接收狭缝。锥度限位接收狭缝的锥度,与位敏探测器的探测角相对应。为了控制探测点的大小,沿锥度狭缝的径向,嵌入4-5块隔片。测角仪园的园心,就是探测点的位置,与常规测定方法不同,它既可位于工件表面,也可位于工件内部。如果采用Cr、Fe、Co、Cu靶,探测深度可达毫米数量级;如果采用Mo、Ag靶,探测深度可达厘米数量级。
X射线波长越短或被测工件所用材料原子序数越低,入射X射线在工件中的穿透深度越深。探测来自不同深度、不同部位的衍射线,就能无损探测残余应力在工件内的三维分布。如果应力仪采用正比计数器或闪烁计数器,应配用平行限位接收狭缝;如果采用位敏探测器,应配用该项目发明的锥度限位接收狭缝。锥度限位接收狭缝的锥度,与位敏探测器的探测角相对应。为了控制探测点的大小,沿锥度狭缝的径向,嵌入4-5块隔片。测角仪园的园心,就是探测点的位置,与常规测定方法不同,它既可位于工件表面,也可位于工件内部。如果采用Cr、Fe、Co、Cu靶,探测深度可达毫米数量级;如果采用Mo、Ag靶,探测深度可达厘米数量级。

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