[00335099]一种高效检测静态随机存取存储器耦合故障的系统及方法
交易价格：
面议
所属行业：
其他电子信息
类型：
发明专利
技术成熟度：
通过小试
专利所属地：中国
专利号：CN201610579633.1
交易方式：
资料待完善
联系人：
安徽大学
进入空间
所在地：安徽合肥市
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技术详细介绍
摘要：本发明公开了一种高效检测静态随机存取存储器(SRAM)耦合故障的方法，包括：BIST检测电路和March CCD检测算法。BIST检测电路采用复杂度为13N(N为存储器存储单元数)的March检测序列实现对存在耦合故障存储单元的高效检测，引入复杂度为2F(F为存在耦合故障的存储器单元数)的条件检测单元实现对耦合故障类型的确定。与现有检测方法对比，具有更好的检测效率和故障覆盖率，有利于降低大批量SRAM存储器的检测成本和检测时间。
摘要：本发明公开了一种高效检测静态随机存取存储器(SRAM)耦合故障的方法，包括：BIST检测电路和March CCD检测算法。BIST检测电路采用复杂度为13N(N为存储器存储单元数)的March检测序列实现对存在耦合故障存储单元的高效检测，引入复杂度为2F(F为存在耦合故障的存储器单元数)的条件检测单元实现对耦合故障类型的确定。与现有检测方法对比，具有更好的检测效率和故障覆盖率，有利于降低大批量SRAM存储器的检测成本和检测时间。
