[00331881]一种液晶指向矢快速测量装置及其实现方法
交易价格：
面议
所属行业：
光学仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
通过小试
专利所属地：中国
专利号：CN201611031573.6
交易方式：
资料待完善
联系人：
福州大学
进入空间
所在地：福建福州市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明涉及一种液晶指向矢快速测量装置及其实现方法，通过利用基于晶体劈的偏光干涉原理将外电压驱动下液晶中透射光的偏振态改变转换成干涉条纹的移动，并利用高速相机对干涉条纹的移动进行测量，根据液晶指向矢的倾斜角和扭转角和透射光偏振态的关系，来获得液晶分子平均指向矢的动态信息。该指向矢测量方法的测量光路结构简单紧凑，测量过程中无需光学器件的调节，测量结果不受光源波动性的影响，并可同步快速测量出液晶指向矢倾斜角和扭转角，属于高精度线性测量。该方法测量速度主要依赖于相机的采集频率，可达微秒量级。
摘要：本发明涉及一种液晶指向矢快速测量装置及其实现方法，通过利用基于晶体劈的偏光干涉原理将外电压驱动下液晶中透射光的偏振态改变转换成干涉条纹的移动，并利用高速相机对干涉条纹的移动进行测量，根据液晶指向矢的倾斜角和扭转角和透射光偏振态的关系，来获得液晶分子平均指向矢的动态信息。该指向矢测量方法的测量光路结构简单紧凑，测量过程中无需光学器件的调节，测量结果不受光源波动性的影响，并可同步快速测量出液晶指向矢倾斜角和扭转角，属于高精度线性测量。该方法测量速度主要依赖于相机的采集频率，可达微秒量级。
