[00293495]涡旋光的干涉测量方法与系统
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201511000590.9
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
华南师范大学
进入空间
所在地：广东广州市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明公开了涡旋光的干涉测量方法与系统，包括：涡旋光产生单元、控制单元、涡旋光调制单元、共轭涡旋光干涉单元和图像采集单元。涡旋光产生单元用于产生涡旋光束；控制单元用于改变涡旋光的传播光路；涡旋光调制单元用于对涡旋光束的拓扑荷进行调制；共轭涡旋光干涉单元用于将一束涡旋光分成两束，并将其中一束涡旋光转化为另一束的共轭涡旋光，然后对两束光进行干涉；图像采集单元用于对两束共轭涡旋光的干涉强度图进行采集，通过对采集数据进行分析从而可以获得涡旋光拓扑荷的阶数和符号。本发明利用改进的M‐Z干涉仪和携带有涡旋相位板VPP的方形环路装置提出了一种简单的没有器件引入干涉影响的整数和半整数拓扑荷干涉测量系统。
摘要：本发明公开了涡旋光的干涉测量方法与系统，包括：涡旋光产生单元、控制单元、涡旋光调制单元、共轭涡旋光干涉单元和图像采集单元。涡旋光产生单元用于产生涡旋光束；控制单元用于改变涡旋光的传播光路；涡旋光调制单元用于对涡旋光束的拓扑荷进行调制；共轭涡旋光干涉单元用于将一束涡旋光分成两束，并将其中一束涡旋光转化为另一束的共轭涡旋光，然后对两束光进行干涉；图像采集单元用于对两束共轭涡旋光的干涉强度图进行采集，通过对采集数据进行分析从而可以获得涡旋光拓扑荷的阶数和符号。本发明利用改进的M‐Z干涉仪和携带有涡旋相位板VPP的方形环路装置提出了一种简单的没有器件引入干涉影响的整数和半整数拓扑荷干涉测量系统。
