[00293494]一种纳米颗粒粒径的测量方法及其测量系统
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201510824396.6
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
华南师范大学
进入空间
所在地：广东广州市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明涉及一种纳米颗粒粒径的测量方法，包括如下步骤：S1：测得待测样品的光强自相关函数曲线；S2：测得参考样品的光强自相关函数曲线；S3：对待测样品和参考样品的光强自相关函数曲线采用对数函数斜率法进行处理，得到待测样品的颗粒粒径。本发明所述的纳米颗粒粒径的测量方法，采用对数函数斜率法对得到的光强自相关函数曲线进行处理，可以通过已知颗粒的粒径得到待测样品颗粒的粒径，更加方便快捷，简单准确。本发明还提供一种纳米颗粒粒径的测量系统。
摘要：本发明涉及一种纳米颗粒粒径的测量方法，包括如下步骤：S1：测得待测样品的光强自相关函数曲线；S2：测得参考样品的光强自相关函数曲线；S3：对待测样品和参考样品的光强自相关函数曲线采用对数函数斜率法进行处理，得到待测样品的颗粒粒径。本发明所述的纳米颗粒粒径的测量方法，采用对数函数斜率法对得到的光强自相关函数曲线进行处理，可以通过已知颗粒的粒径得到待测样品颗粒的粒径，更加方便快捷，简单准确。本发明还提供一种纳米颗粒粒径的测量系统。
