[00278930]基于激光感生热电电压的时间响应测量薄膜厚度的新方法
交易价格：
面议
所属行业：
其他仪器仪表
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201610898373.4
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
昆明理工大学
进入空间
所在地：云南昆明市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明提供一种可以获得外延(或者近似外延)生长在斜切衬底上的薄膜的厚度的无损测量新方法，这种方法采用脉冲宽度小于20ns紫外的短脉冲激光辐照薄膜，短脉冲激光作为一个瞬时热源加热外延薄膜表面，在垂直于薄膜表面的方向上产生温度梯度，然后在薄膜表面沿薄膜的斜切方向，探测由于温差所产生横向热电电压信号(称为LITV信号)随时间的衰减，得到LITV信号由峰值衰减到峰值的1/e时所需要的时间τd，基于τd的平方根与薄膜的厚度d的线性关系获得斜切衬底上薄膜的厚度测量值。
本发明提供一种可以获得外延(或者近似外延)生长在斜切衬底上的薄膜的厚度的无损测量新方法，这种方法采用脉冲宽度小于20ns紫外的短脉冲激光辐照薄膜，短脉冲激光作为一个瞬时热源加热外延薄膜表面，在垂直于薄膜表面的方向上产生温度梯度，然后在薄膜表面沿薄膜的斜切方向，探测由于温差所产生横向热电电压信号(称为LITV信号)随时间的衰减，得到LITV信号由峰值衰减到峰值的1/e时所需要的时间τd，基于τd的平方根与薄膜的厚度d的线性关系获得斜切衬底上薄膜的厚度测量值。
