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[00266362]加阶梯式异质结隔离区的共振隧穿二极管

交易价格: 面议

所属行业: 自动化应用

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201610131515.4

交易方式: 技术转让 技术转让 技术入股

联系人: 四川大学

进入空间

所在地:四川成都市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

本发明公开了一种产生微分负阻的共振隧穿二极管(RTD)器件新型结构,该结构可产生毫安‑安培级输出电流,应用于太赫兹波信号源设计可产生毫瓦级输出功率的太赫兹波信号。本发明中的RTD的结构见附图。结构中采用AlzGa1‑zN/GaN/AlzGa1‑zN双势垒单势阱结构的量子阱区;发射区为重掺杂的AlxGa1‑xN;集电区是重掺杂的GaN;集电极隔离区为GaN;而发射极隔离区是AlyGa1‑yN阶梯型隔离区:AlyGa1‑yN的Al组分y由x按阶梯减小到0。理论分析和仿真在室温下(300K)进行,仿真参数是x=0.4,y从0.4按五级阶梯减小,z=0.2,仿真结果峰值电流Ip=1.59A(53mA/um2),谷值电流Iv=0.655A(21.8
本发明公开了一种产生微分负阻的共振隧穿二极管(RTD)器件新型结构,该结构可产生毫安‑安培级输出电流,应用于太赫兹波信号源设计可产生毫瓦级输出功率的太赫兹波信号。本发明中的RTD的结构见附图。结构中采用AlzGa1‑zN/GaN/AlzGa1‑zN双势垒单势阱结构的量子阱区;发射区为重掺杂的AlxGa1‑xN;集电区是重掺杂的GaN;集电极隔离区为GaN;而发射极隔离区是AlyGa1‑yN阶梯型隔离区:AlyGa1‑yN的Al组分y由x按阶梯减小到0。理论分析和仿真在室温下(300K)进行,仿真参数是x=0.4,y从0.4按五级阶梯减小,z=0.2,仿真结果峰值电流Ip=1.59A(53mA/um2),谷值电流Iv=0.655A(21.8

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