[00264524]地下洞室横断面三维变形的测量方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201510579995.6
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
四川大学
进入空间
所在地：四川成都市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：地下洞室横断面三维变形的测量方法，属于岩体工程测量技术领域，以克服现有方法无法准确测量地下空间横断面三维变形情况的缺点。包括以下步骤在待测横断面上布置四个定位基点A、B、C、D，四个定位基点分别位于待测量的横断面的四条边上；以A为坐标原点建立三维空间坐标系，在该三维空间坐标系中分析各定位基点；依次测得相邻的两个定位基点间的初始距离、初始方位角及初始倾角；根据上述参数利用相应公式计算各初始定位基点B0、C0、D0的三维坐标及空间相关数值；依次测得各变形后相邻的两个定位基点间的距离、方位角及倾角；根据上述参数利用相应公式计算Bn、Cn、Dn的实时三维坐标、变形情况及空间相关数值。适用于地下工程的建设与维护。
摘要：地下洞室横断面三维变形的测量方法，属于岩体工程测量技术领域，以克服现有方法无法准确测量地下空间横断面三维变形情况的缺点。包括以下步骤在待测横断面上布置四个定位基点A、B、C、D，四个定位基点分别位于待测量的横断面的四条边上；以A为坐标原点建立三维空间坐标系，在该三维空间坐标系中分析各定位基点；依次测得相邻的两个定位基点间的初始距离、初始方位角及初始倾角；根据上述参数利用相应公式计算各初始定位基点B0、C0、D0的三维坐标及空间相关数值；依次测得各变形后相邻的两个定位基点间的距离、方位角及倾角；根据上述参数利用相应公式计算Bn、Cn、Dn的实时三维坐标、变形情况及空间相关数值。适用于地下工程的建设与维护。
