[00263118]基于原位光谱‑电化学分析技术的膜污染监测装置及方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201710526047.5
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
天津工业大学
进入空间
所在地：天津天津市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明公开了一种基于原位光谱‑电化学分析技术的膜污染监测装置及方法，该装置包括带有顶壁的过滤池1，分离膜片3，左池设置有进水口4，右池设置有出水口5，一端带有环状结构的工作电极7贯穿设置在左池中间的顶壁上，光纤探头8贯穿左池的左壁、穿过工作电极的环并使右端设置在近分离膜片3处，片状对电极9贯穿设置在右池中间的顶壁上，在左池的后壁的右下位置，贯穿设置有第一Ag/AgCl参比电极10，在右池的后壁的左下位置，贯穿设置有第二Ag/AgCl参比电极11，本发明的装置能在线监测分析不同分离膜片污染情况，从而制定合适的清洗方案，且操作简便、测量速度快，易于工业化，测量准确度高、灵敏度高、占地少、可操控性强。
摘要：本发明公开了一种基于原位光谱‑电化学分析技术的膜污染监测装置及方法，该装置包括带有顶壁的过滤池1，分离膜片3，左池设置有进水口4，右池设置有出水口5，一端带有环状结构的工作电极7贯穿设置在左池中间的顶壁上，光纤探头8贯穿左池的左壁、穿过工作电极的环并使右端设置在近分离膜片3处，片状对电极9贯穿设置在右池中间的顶壁上，在左池的后壁的右下位置，贯穿设置有第一Ag/AgCl参比电极10，在右池的后壁的左下位置，贯穿设置有第二Ag/AgCl参比电极11，本发明的装置能在线监测分析不同分离膜片污染情况，从而制定合适的清洗方案，且操作简便、测量速度快，易于工业化，测量准确度高、灵敏度高、占地少、可操控性强。
