[00249459]一种多光路自校准激光跟踪测量系统
交易价格：
面议
所属行业：
自动化应用
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201510099842.1
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
科小易
进入空间
所在地：福建厦门市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明涉及一种激光测量领域，特别涉及一种多光路自校准激光跟踪测量系统，包括激光头、靶镜以及3个以上的激光跟踪头。相对于传统的激光跟踪仪仅有一路测量激光，并需将激光跟踪仪的角度测量信息引入到测量结果中，本发明提供的多光路自校准激光跟踪测量系统采用多边定位法实现目标靶镜位置的计算，每个激光跟踪测量光路仅仅需要长度信息，大大提高了目标靶镜的空间位置测量精度。同时，在保证3路激光不断光的情况下，其它任意激光光路出现意外断光，不影响整体测量，大大增加了测量工作的稳定性。
本发明涉及一种激光测量领域，特别涉及一种多光路自校准激光跟踪测量系统，包括激光头、靶镜以及3个以上的激光跟踪头。相对于传统的激光跟踪仪仅有一路测量激光，并需将激光跟踪仪的角度测量信息引入到测量结果中，本发明提供的多光路自校准激光跟踪测量系统采用多边定位法实现目标靶镜位置的计算，每个激光跟踪测量光路仅仅需要长度信息，大大提高了目标靶镜的空间位置测量精度。同时，在保证3路激光不断光的情况下，其它任意激光光路出现意外断光，不影响整体测量，大大增加了测量工作的稳定性。
