[00244475]一种基于离散系数评价磨粒轨迹均匀性的方法
交易价格：
面议
所属行业：
分析仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201611262372.7
交易方式：
技术转让
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技术入股
联系人：
浙江工业大学
进入空间
所在地：浙江杭州市
- 服务承诺
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-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明公开了一种基于离散系数评价磨粒轨迹均匀性的方法，首先将研磨盘划分出n个网格划分区域，并建立以研磨盘回转中心O1为原点的绝对坐标系σ1＝[O1,x1,y1]和以工件盘回转中心O2为原点的相对坐标系σ2＝[O2,x2,y2]，取研磨盘上任意一颗磨粒P，在研磨盘旋转和工件沿相对坐标系σ2旋转的同时，取指定时间段t，统计出每个网格划分区域内的轨迹点个数，计算所有的网格划分区域内轨迹点个数的均值和每个网格划分区域内轨迹均匀性的标准差，由此计算轨迹均匀性的离散系数表征函数作为轨迹均匀性的评判标准。本发明通过引入表征函数—离散系数，可以更加全面的评价研磨加工过程中磨粒轨迹的均匀性，为研磨加工过程中磨粒轨迹的均匀性以及研磨盘均匀磨损的运动学设计提供合理的理论依据。
本发明公开了一种基于离散系数评价磨粒轨迹均匀性的方法，首先将研磨盘划分出n个网格划分区域，并建立以研磨盘回转中心O1为原点的绝对坐标系σ1＝[O1,x1,y1]和以工件盘回转中心O2为原点的相对坐标系σ2＝[O2,x2,y2]，取研磨盘上任意一颗磨粒P，在研磨盘旋转和工件沿相对坐标系σ2旋转的同时，取指定时间段t，统计出每个网格划分区域内的轨迹点个数，计算所有的网格划分区域内轨迹点个数的均值和每个网格划分区域内轨迹均匀性的标准差，由此计算轨迹均匀性的离散系数表征函数作为轨迹均匀性的评判标准。本发明通过引入表征函数—离散系数，可以更加全面的评价研磨加工过程中磨粒轨迹的均匀性，为研磨加工过程中磨粒轨迹的均匀性以及研磨盘均匀磨损的运动学设计提供合理的理论依据。
