[00242971]一种铷矿石中主次成分的X射线荧光光谱分析方法
交易价格：
面议
所属行业：
其他化学化工
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201610114140.0
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
中国地质科学院矿产综合利用研究所
进入空间
所在地：四川成都市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明公开了一种铷矿石中主次成分的X射线荧光光谱分析方法，具体流程如下：筛选含铷岩矿及土壤、水系沉积物的标准物质设计标准曲线，选择混合熔剂熔融制备标准样品，确定仪器分析条件、校正基体及谱线重叠效应，建立标准曲线，以定值样品验证方法准确度及重现性，测定铷矿石中硅、铝、钙、铁、钠、钾、钛、铷；本发明选择熔融制样作为铷矿石X射线荧光光谱分析前处理手段，相比粉末压片可消除粒度效应及一定程度上的基体效应，使用X射线荧光光谱分析铷矿石主次成分较之传统化学、仪器分析方法省时省力；本发明具有检出限低、线性范围宽、分析速度快等优点，单个矿石样品平均处理时间不超过20
本发明公开了一种铷矿石中主次成分的X射线荧光光谱分析方法，具体流程如下：筛选含铷岩矿及土壤、水系沉积物的标准物质设计标准曲线，选择混合熔剂熔融制备标准样品，确定仪器分析条件、校正基体及谱线重叠效应，建立标准曲线，以定值样品验证方法准确度及重现性，测定铷矿石中硅、铝、钙、铁、钠、钾、钛、铷；本发明选择熔融制样作为铷矿石X射线荧光光谱分析前处理手段，相比粉末压片可消除粒度效应及一定程度上的基体效应，使用X射线荧光光谱分析铷矿石主次成分较之传统化学、仪器分析方法省时省力；本发明具有检出限低、线性范围宽、分析速度快等优点，单个矿石样品平均处理时间不超过20
