[00242566]基于D/8条件对光阱误差修正的颜色测量仪及实现方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201310373360.1
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
中国计量学院
进入空间
所在地：浙江杭州市
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- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明公开了基于D/8条件对光阱误差修正的颜色测量仪及实现方法，其设计了一种新型的颜色测量仪，所述颜色测量仪包括：光谱仪、光阱、拨片、光源、积分球、处理装置和拨片控制装置；所述拨片设置在光阱处，且涂覆与积分球内壁相同的白色漫反射涂料；光谱仪设置在垂直于样品法线的-8°的位置处，且光谱仪连接处理装置；光阱设置在垂直于样品法线的+8°的位置处。其通过控制拨片，可以兼容SCI和SCE两种几何测量结构，通过对样品表面SCI和SCE数据进行同时测量，可获得样品表面的光泽数据。另外，还建立了一种根据样品表面光泽数据对SCE测量数据进行修正的矫正模型，大大改善了测试结果之间的一致性，具有很好的推广应用前景。
摘要：本发明公开了基于D/8条件对光阱误差修正的颜色测量仪及实现方法，其设计了一种新型的颜色测量仪，所述颜色测量仪包括：光谱仪、光阱、拨片、光源、积分球、处理装置和拨片控制装置；所述拨片设置在光阱处，且涂覆与积分球内壁相同的白色漫反射涂料；光谱仪设置在垂直于样品法线的-8°的位置处，且光谱仪连接处理装置；光阱设置在垂直于样品法线的+8°的位置处。其通过控制拨片，可以兼容SCI和SCE两种几何测量结构，通过对样品表面SCI和SCE数据进行同时测量，可获得样品表面的光泽数据。另外，还建立了一种根据样品表面光泽数据对SCE测量数据进行修正的矫正模型，大大改善了测试结果之间的一致性，具有很好的推广应用前景。
