[00242151]一种在线X射线荧光光谱分析系统
交易价格：
面议
所属行业：
控制系统
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201710197153.3
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
中国科学院过程工程研究所
进入空间
所在地：北京北京市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明涉及一种在线X射线荧光光谱分析系统，包括检测子系统、自控子系统以及数据处理子系统；检测子系统包括X射线源、X射线检测器以及样品采集器；X射线入射到样品采集器内，样品在X射线的激发下生成二次X射线，X射线检测器对二次X射线能量进行检测；自控子系统用于将样品转变到常温常压状态，并传输到样品采集器中以备检测子系统进行分析测试；自控子系统将样品的温度和压力参数传输到数据处理子系统，接收并执行来自数据处理子系统的指令；数据处理子系统接收检测信号，通过二次X射线波长来鉴别样品的元素种类，通过二次X射线强度来计算元素在样品内的含量；数据处理子系统还接收自控子系统的信号，根据该信号来控制自控子系统。
本发明涉及一种在线X射线荧光光谱分析系统，包括检测子系统、自控子系统以及数据处理子系统；检测子系统包括X射线源、X射线检测器以及样品采集器；X射线入射到样品采集器内，样品在X射线的激发下生成二次X射线，X射线检测器对二次X射线能量进行检测；自控子系统用于将样品转变到常温常压状态，并传输到样品采集器中以备检测子系统进行分析测试；自控子系统将样品的温度和压力参数传输到数据处理子系统，接收并执行来自数据处理子系统的指令；数据处理子系统接收检测信号，通过二次X射线波长来鉴别样品的元素种类，通过二次X射线强度来计算元素在样品内的含量；数据处理子系统还接收自控子系统的信号，根据该信号来控制自控子系统。
