技术详细介绍
为深圳中天元光学玻璃有限公司开发白片玻璃缺陷检测系统，玻璃的划伤、缺陷、异物、崩边等以《COVER GLASS来料检验》为准，实现检测尺寸公差±0.1mm。利用线结构光源对被测玻 璃侧面进行照射,玻璃内部的缺陷如杂质、裂痕等会散射一部分光,利用高分辨率的CCD相机从被测玻璃的正面进行拍摄，记录一系列带有缺陷信息的图像，然后 移动玻璃到下一个位置，再进行拍摄，最后得到被测玻璃侧面所有照射位置的缺陷图像。
为深圳中天元光学玻璃有限公司开发白片玻璃缺陷检测系统，玻璃的划伤、缺陷、异物、崩边等以《COVER GLASS来料检验》为准，实现检测尺寸公差±0.1mm。利用线结构光源对被测玻 璃侧面进行照射,玻璃内部的缺陷如杂质、裂痕等会散射一部分光,利用高分辨率的CCD相机从被测玻璃的正面进行拍摄，记录一系列带有缺陷信息的图像，然后 移动玻璃到下一个位置，再进行拍摄，最后得到被测玻璃侧面所有照射位置的缺陷图像。