[00232303]一种测量两相流颗粒团聚物速度及加速度的方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN200910082721.0
交易方式：
技术转让
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技术入股
联系人：
中国科学院过程工程研究所
进入空间
所在地：北京北京市
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- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明提供一种测量两相流颗粒团聚物速度及加速度的方法，基于x射线探测装置实现，所述x射线探测装置包括射线源和线状的探测器阵列，反应器位于射线源和探测器阵列之间，所述测量两相流颗粒团聚物速度的方法包括如下步骤：1)获取探测器阵列的各探测器单元处的不含流动信息的反应器本底投影信号Ir；2)使反应器工作，在一段时间内，获取一系列测量时刻下，各探测器单元处的包含流动信息的投影信号I；3)根据步骤1)和2)的数据计算出各测量时刻下各探测器单元所对应的颗粒体积分率εp{n，i}；4)根据颗粒体积分率的涨落判断团聚物出现的位置及时刻，并计算出所述两相流颗粒团聚物速度及加速度。
摘要：本发明提供一种测量两相流颗粒团聚物速度及加速度的方法，基于x射线探测装置实现，所述x射线探测装置包括射线源和线状的探测器阵列，反应器位于射线源和探测器阵列之间，所述测量两相流颗粒团聚物速度的方法包括如下步骤：1)获取探测器阵列的各探测器单元处的不含流动信息的反应器本底投影信号Ir；2)使反应器工作，在一段时间内，获取一系列测量时刻下，各探测器单元处的包含流动信息的投影信号I；3)根据步骤1)和2)的数据计算出各测量时刻下各探测器单元所对应的颗粒体积分率εp{n，i}；4)根据颗粒体积分率的涨落判断团聚物出现的位置及时刻，并计算出所述两相流颗粒团聚物速度及加速度。
