[00231522]磁共振弥散张量成像方法及系统
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201010613704.8
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
中国科学院深圳先进技术研究院
进入空间
所在地：广东深圳市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
一种磁共振弥散张量成像方法，包括以下步骤：对成像对象进行K空间稀疏采样得到弥散加权参考图像的K空间数据；对所述成像对象进行K空间稀疏采样得到弥散加权图像的K空间数据；通过钥孔成像将所述弥散加权参考图像与所述弥散加权图像的K空间数据进行共享填充；对共享填充后的K空间数据进行图像重建。上述磁共振弥散张量成像方法及系统通过稀疏采样连续快速地获取K空间数据，并在钥孔成像技术的作用下进行共享填充，进而重构完整的数据，缩短了扫描时间，提高数据获取速度，达到快速成像的目的。
一种磁共振弥散张量成像方法，包括以下步骤：对成像对象进行K空间稀疏采样得到弥散加权参考图像的K空间数据；对所述成像对象进行K空间稀疏采样得到弥散加权图像的K空间数据；通过钥孔成像将所述弥散加权参考图像与所述弥散加权图像的K空间数据进行共享填充；对共享填充后的K空间数据进行图像重建。上述磁共振弥散张量成像方法及系统通过稀疏采样连续快速地获取K空间数据，并在钥孔成像技术的作用下进行共享填充，进而重构完整的数据，缩短了扫描时间，提高数据获取速度，达到快速成像的目的。
