[00231493]基于磁共振声辐射力成像的组织位移测量方法和系统
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201410843339.8
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
中国科学院深圳先进技术研究院
进入空间
所在地：广东深圳市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
一种基于磁共振声辐射力成像的组织位移测量方法和系统，包括如下步骤：获取利用二维自旋回波序列同时施加聚焦超声所采集得到的图像；将图像中对像组织分为感兴趣区域和参考区域；分离出所述参考区域的组织相位图；对所述参考区域的组织相位图进行多项式模型拟合，求得多项式系数；利用所述多项式系数，进行内插，计算得所述感兴趣区域中组织的基线相位图；从采集图像中获取所述感兴趣区域的组织相位图；获得所述感兴趣区域组织的相位差；利用所述感兴趣区域组织的相位差得到所述感兴趣区域组织的位移。本发明对组织运动不敏感，能减小涡流及场不均匀引起误差，只需采集一次图像就可测量相位差，从而获得组织位移变化，加快了组织位移测量速度。
一种基于磁共振声辐射力成像的组织位移测量方法和系统，包括如下步骤：获取利用二维自旋回波序列同时施加聚焦超声所采集得到的图像；将图像中对像组织分为感兴趣区域和参考区域；分离出所述参考区域的组织相位图；对所述参考区域的组织相位图进行多项式模型拟合，求得多项式系数；利用所述多项式系数，进行内插，计算得所述感兴趣区域中组织的基线相位图；从采集图像中获取所述感兴趣区域的组织相位图；获得所述感兴趣区域组织的相位差；利用所述感兴趣区域组织的相位差得到所述感兴趣区域组织的位移。本发明对组织运动不敏感，能减小涡流及场不均匀引起误差，只需采集一次图像就可测量相位差，从而获得组织位移变化，加快了组织位移测量速度。
