[00231453]CT系统的散射校正方法及CT系统
交易价格：
面议
所属行业：
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201010574162.8
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
中国科学院深圳先进技术研究院
进入空间
所在地：广东深圳市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
一种CT系统的散射校正方法，包括以下步骤：获取亮场图像；将散射校正器放置于被扫描物体与探测器之间，进行等角度圆周扫描得到衰减投影图像；分别对被扫描物体和散射校正器进行等角度圆周扫描得到投影图像集和散射校正图像；根据所述亮场图像、散射校正图像以及衰减投影图像生成散射强度分布图；通过所述投影图像集与散射强度分布图之差得到校正后的投影图像集。上述CT系统的散射校正方法及CT系统中，通过将散射校正器置于被扫描物体与探测器之间来消除散射的影响，大大地减少了扫描时间和处理的数据量，有效地提高了效率和精度。
一种CT系统的散射校正方法，包括以下步骤：获取亮场图像；将散射校正器放置于被扫描物体与探测器之间，进行等角度圆周扫描得到衰减投影图像；分别对被扫描物体和散射校正器进行等角度圆周扫描得到投影图像集和散射校正图像；根据所述亮场图像、散射校正图像以及衰减投影图像生成散射强度分布图；通过所述投影图像集与散射强度分布图之差得到校正后的投影图像集。上述CT系统的散射校正方法及CT系统中，通过将散射校正器置于被扫描物体与探测器之间来消除散射的影响，大大地减少了扫描时间和处理的数据量，有效地提高了效率和精度。
