[00231451]同轴相衬成像方法及系统和相衬CT方法及系统
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201410583697.X
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
中国科学院深圳先进技术研究院
进入空间
所在地：广东深圳市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明提供了一种同轴相衬成像方法，通过微焦斑X射线源产生具有空间相干性的射线，所述射线穿透固定位置的旋转台上的成像物体；通过探测器接收所述射线透过所述成像物体后的图像，具体是分别对所述微焦斑X射线源工作在两个电压下产生的不同射线透过所述成像物体后的图像进行曝光成像，得到双能谱图像；分别测试在所述两个电压下所述成像物体的入射面处的光强分布和谱密度分布；根据所述双能谱图像、光强分布和谱密度分布进行相位恢复。此方法不需要进行高难度的多幅图像精确配准并且成本低。此外还提供了一种同轴相衬成像系统。同时基于此同轴相衬成像方法提供了一种相衬CT方法，可以恢复成像物体的多种信息，此外还提供了一种相衬CT系统。
本发明提供了一种同轴相衬成像方法，通过微焦斑X射线源产生具有空间相干性的射线，所述射线穿透固定位置的旋转台上的成像物体；通过探测器接收所述射线透过所述成像物体后的图像，具体是分别对所述微焦斑X射线源工作在两个电压下产生的不同射线透过所述成像物体后的图像进行曝光成像，得到双能谱图像；分别测试在所述两个电压下所述成像物体的入射面处的光强分布和谱密度分布；根据所述双能谱图像、光强分布和谱密度分布进行相位恢复。此方法不需要进行高难度的多幅图像精确配准并且成本低。此外还提供了一种同轴相衬成像系统。同时基于此同轴相衬成像方法提供了一种相衬CT方法，可以恢复成像物体的多种信息，此外还提供了一种相衬CT系统。
