[00230954]一种用于测量晶体本征分辨率的实验装置
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201510919512.2
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
中国科学院深圳先进技术研究院
进入空间
所在地：广东深圳市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明公开了一种测量晶体本征分辨率的实验装置，包括工作台、放射检测装置、探测装置和处理装置，放射检测装置包括安装座、放射源和第一探测器，安装座包括X轴移动组件和Z轴移动组件，探测装置包括两个第二探测器和晶体阵列座。由于第一探测器的探测端与放射源之间可放置晶体片，使得第一探测器探测晶体片的闪烁光子，并将光信号转化为第一电信号，处理器获取第一电信号并将第一电信号与两个电信号比较，判断两个第二探测器的探测是否准确，并且放射检测装置包括X轴移动组件和Z轴移动组件能够准确调节放射源与晶体阵列的位置，提高了实验的准确性。
本发明公开了一种测量晶体本征分辨率的实验装置，包括工作台、放射检测装置、探测装置和处理装置，放射检测装置包括安装座、放射源和第一探测器，安装座包括X轴移动组件和Z轴移动组件，探测装置包括两个第二探测器和晶体阵列座。由于第一探测器的探测端与放射源之间可放置晶体片，使得第一探测器探测晶体片的闪烁光子，并将光信号转化为第一电信号，处理器获取第一电信号并将第一电信号与两个电信号比较，判断两个第二探测器的探测是否准确，并且放射检测装置包括X轴移动组件和Z轴移动组件能够准确调节放射源与晶体阵列的位置，提高了实验的准确性。
