[00229423]一种介电测试样品的制样方法和应用
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201710571334.8
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
中国科学院长春应用化学研究所
进入空间
所在地：吉林长春市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明提供了一种介电测试样品的制样方法，包括以下步骤a)在下电极放置隔离柱和介电测试样品，得到放置有介电测试样品的下电极；所述介电测试样品分布在以下电极中心为圆心的圆内；b)将步骤a)得到的放置有介电测试样品的下电极进行真空干燥，再覆盖上电极进行压制，得到待测样品。与现有技术相比，本发明提供的制样方法能够测到非极性高分子材料的链段松弛运动，提高介电测试结果的准确率，且能够进行变温测试，即使测试温度超过待测样品玻璃化温度或熔点，依然可以进行正常测试。另外，本发明提供的制样方法没有引入新物质，不会对测试样品造成污染；并且由于隔离柱的存在，样品的流动受到一定限制，样品与电极不易脱落。
摘要：本发明提供了一种介电测试样品的制样方法，包括以下步骤a)在下电极放置隔离柱和介电测试样品，得到放置有介电测试样品的下电极；所述介电测试样品分布在以下电极中心为圆心的圆内；b)将步骤a)得到的放置有介电测试样品的下电极进行真空干燥，再覆盖上电极进行压制，得到待测样品。与现有技术相比，本发明提供的制样方法能够测到非极性高分子材料的链段松弛运动，提高介电测试结果的准确率，且能够进行变温测试，即使测试温度超过待测样品玻璃化温度或熔点，依然可以进行正常测试。另外，本发明提供的制样方法没有引入新物质，不会对测试样品造成污染；并且由于隔离柱的存在，样品的流动受到一定限制，样品与电极不易脱落。
