[00226237]一种三波长二维温度场测量装置及方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201610323634.X
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
徐州中国矿业大学大学科技园有限责任公司
进入空间
所在地：江苏徐州市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
一种三波长二维温度场测量装置及方法，属于温度场测量装置及方法。测量装置：遮光筒K减弱环境杂散光的影响；主物镜L1，用于光学成像，将待测物体的辐射成像在视场光阑上；透镜L2，产生平行光线；孔径光阑，控制成像光束的光能量；干涉滤光片F1，F2，F3，只允许某个特定波长的光通过；光电传感器阵列D1，D2，D3，用于接收滤光后的辐射，将辐射能转化为电信号；V/F转换装置，将电压信号转换为频率信号，便于采集信息；数据采集分析器，采集由光电传感器经V/F转换后的信息并进行处理，获得各点的相对光谱强度信息，进而采用指数线性发射率模型对各点温度进行反演。优点：实现简单，采集系统成本低，性能稳定，在高温检测领域易于推广应用。
一种三波长二维温度场测量装置及方法，属于温度场测量装置及方法。测量装置：遮光筒K减弱环境杂散光的影响；主物镜L1，用于光学成像，将待测物体的辐射成像在视场光阑上；透镜L2，产生平行光线；孔径光阑，控制成像光束的光能量；干涉滤光片F1，F2，F3，只允许某个特定波长的光通过；光电传感器阵列D1，D2，D3，用于接收滤光后的辐射，将辐射能转化为电信号；V/F转换装置，将电压信号转换为频率信号，便于采集信息；数据采集分析器，采集由光电传感器经V/F转换后的信息并进行处理，获得各点的相对光谱强度信息，进而采用指数线性发射率模型对各点温度进行反演。优点：实现简单，采集系统成本低，性能稳定，在高温检测领域易于推广应用。
