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[00205087]TDLAS中激光波长检测控制装置及其控制方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 通过小试

专利所属地:中国

专利号:CN201310278877.2

交易方式: 技术转让 技术转让 技术入股

联系人: 太原理工大学

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所在地:山西太原市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

一种TDLAS中激光波长检测控制装置及其控制方法(专利号:CN201310278877.2),所述装置是近红外DFB半导体激光器输入信号由偏振控制器后单模光纤耦合器,氦氖激光器输入信号通过偏振控制器后单模光纤耦合器,进入压电陶瓷光纤拉伸器及滤波后由光电探测器接收输出给近红外DFB半导体激光器波长测量和电流控制器;所述方法是由双波长光纤迈克耳逊干涉仪结构和通过光纤压电陶瓷拉伸器实现光纤臂长差调制,利用光电探测器探测光纤端面菲涅耳反射干涉信号和通过相位调制度测量实现激光波长快速检测,通过控制近红外DFB半导体激光器偏置电流实现输出波长的稳定。本发明克服了TDLAS系统中红外DFB半导体激光器存在慢漂和跳模现象,应用于激光大气测量,工业燃烧测量控制等激光测量领域。

一种TDLAS中激光波长检测控制装置及其控制方法(专利号:CN201310278877.2),所述装置是近红外DFB半导体激光器输入信号由偏振控制器后单模光纤耦合器,氦氖激光器输入信号通过偏振控制器后单模光纤耦合器,进入压电陶瓷光纤拉伸器及滤波后由光电探测器接收输出给近红外DFB半导体激光器波长测量和电流控制器;所述方法是由双波长光纤迈克耳逊干涉仪结构和通过光纤压电陶瓷拉伸器实现光纤臂长差调制,利用光电探测器探测光纤端面菲涅耳反射干涉信号和通过相位调制度测量实现激光波长快速检测,通过控制近红外DFB半导体激光器偏置电流实现输出波长的稳定。本发明克服了TDLAS系统中红外DFB半导体激光器存在慢漂和跳模现象,应用于激光大气测量,工业燃烧测量控制等激光测量领域。

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