[01920630]基于SVM和回归分析的玉米叶片叶绿素含量及表型参数测定方法
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面议
所属行业:
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201610611933.3
交易方式:
技术转让
联系人:
所在地:内蒙古自治区呼和浩特市
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对所交付的所有资料进行保密
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技术详细介绍
本发明公开了一种基于SVM和回归分析的玉米叶片叶绿素含量及表型参数测定方法,建立了多光谱信息与玉米叶片叶绿素含量的关系模型,对玉米叶片叶绿素含量进行了预测,计算玉米叶片叶绿素含量的分布图,并进行伪彩色处理,分别分析了叶绿素沿叶片生长长度和宽度方向上的分布规律,证明在苗期玉米叶片叶绿素含量从叶基至叶尖逐渐增大;穗期叶绿素含量在长度方向较平均;在花粒期叶绿素含量在叶片上部有一个明显的峰值,叶尖叶绿素含量较低;宽度方向上,玉米叶片叶绿素含量基本对称;对玉米叶片轮廓进行了曲线回归逼近,结果表明,玉米叶片轮廓符合二次曲线,可用二次方程表达玉米叶型。
本发明公开了一种基于SVM和回归分析的玉米叶片叶绿素含量及表型参数测定方法,建立了多光谱信息与玉米叶片叶绿素含量的关系模型,对玉米叶片叶绿素含量进行了预测,计算玉米叶片叶绿素含量的分布图,并进行伪彩色处理,分别分析了叶绿素沿叶片生长长度和宽度方向上的分布规律,证明在苗期玉米叶片叶绿素含量从叶基至叶尖逐渐增大;穗期叶绿素含量在长度方向较平均;在花粒期叶绿素含量在叶片上部有一个明显的峰值,叶尖叶绿素含量较低;宽度方向上,玉米叶片叶绿素含量基本对称;对玉米叶片轮廓进行了曲线回归逼近,结果表明,玉米叶片轮廓符合二次曲线,可用二次方程表达玉米叶型。