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[00157756]一种采用绝对相位测量的光学三维测量方法

交易价格: 面议

所属行业: 其他电子信息

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:ZL201010161971.6

交易方式: 技术转让

联系人: 浙江高校产学研联盟中心——海宁中心

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所在地:浙江金华市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

  本发明属于光学三维传感技术领域,具体涉及一种采用绝对相位测量的光学三维测量方法。本发明提供了一种采用单幅辅助编码图案的方法,它结合相位编码方案中截断相位分布特点及编码图案变形特点,使用3值灰度编码,提高解码可靠性,并且简化了解码算法。即采用正弦光栅或罗奇光栅图案加一幅空间灰度编码图案的方法实现绝对相位测量,进而计算出物体的三维形貌和空间位置。

  本发明属于光学三维传感技术领域,具体涉及一种采用绝对相位测量的光学三维测量方法。本发明提供了一种采用单幅辅助编码图案的方法,它结合相位编码方案中截断相位分布特点及编码图案变形特点,使用3值灰度编码,提高解码可靠性,并且简化了解码算法。即采用正弦光栅或罗奇光栅图案加一幅空间灰度编码图案的方法实现绝对相位测量,进而计算出物体的三维形貌和空间位置。

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