技术详细介绍
一、发明创造简介：
透明介质的折射率是其最重要的光学参数之一，折射率的精确、简便、快速测量技术的研究一直是本技术领域的热点问题，也是大学物理光学实验中的基本内容。几何光学测量法是透明固体折射率的主要测量方法，其中最常用的方法是利用分光计的最小偏向角法、V棱镜折射法和阿贝折射仪，虽然其测量精度都较高，但都要求将待测量的固体透明介质加工成所要求的确定形状，其加工成本高、难度大，影响了在一般条件下的使用。
二、创新点：
本发明针对现有技术的不足，提供一种原理直观、方法简单、装置构成成本低、适用范围广、测量精度较高，由全反射形成的暗带不需要调试自动形成，且不受环境条件的影响，特别适合于学生实验，课堂演示实验以及工程现场测量。
三、发明的应用价值和市场前景：
适合于学生关于全反射的实验、演示实验以及工程现场测量。