[01381670]数字集成电路测试数据的压缩生成方法
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技术详细介绍
本发明公开了一种数字集成电路测试数据的压缩生成方法,与传统测试方法不同,该方法首先解析出一类具有线性关系的单输入变化测试序列,通过故障模拟的方法确认测试序列中具有新的故障检测能力的测试图形集,测试图形集经线性关系压缩后的一小部分位的值则为压缩后的测试图形集,可存储在自动测试设备ATE中。在测试施加时,压缩后的测试图形集按预先定义的线性关系由硬件电路解压,还原出实际的测试图形集,并施加给被测电路。ATE中存储的数据量比实际的测试图形集的数据量小得多,该测试方法具有压缩率高、易于实现、功耗低和覆盖率高的特点。