[01364877]Life prediction of OLED for constant-stress accelerated degradation tests using luminance decaying model

随着有机发光材料和器件技术的不断发展和成熟,凭借高效率、高亮度、宽视角、低功耗、自发光、驱动电压低、响应速度快、全彩色、易制成超薄大面积、材料轻便等优势的有机电致发光器件（OLED）得到国际社会特别是产业界和学术界的广泛重视,并逐步进入各个显示领域。虽然理论和试验上,人们对OLED的研究已有了一定的进展,而如何快速准确地实现OLED的寿命预测仍然是研究技术人员与生产企业普遍关注的问题。 本研究以亮度作为性能退化指标,电流作为试验应力,通过对OLED开展三组恒定的加速退化试验来获得样品的亮度衰减数据,采用威布尔函数描述OLED亮度随时间衰减关系,利用最小二乘法（LSM）估计出形状参数和尺度参数,完成了OLED的寿命预测。研究结果表明,加速退化试验及其模型揭示了OLED亮度衰减规律,亮度衰减公式很好地拟合了试验数据,拟合值与试验值相比误差较小;基于亮度衰减模型预测OLED的寿命精度很高,这使得在短时间内快速预测OLED寿命成为可能,并为工程师在关于可靠寿命的设计与制造工艺方面提供重要指导。