[00129337]诊断辐EM机理的实验台及辐射EMI机理的简易诊断方
交易价格：
面议
所属行业：
机械检测
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：200810242655.4
交易方式：
技术转让
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技术入股
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联系人：
南京师范大学
进入空间
所在地：江苏南京市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明公开了一种诊断辐射EMI机理的实验台及简易诊断方法，实验台由工作台、电场探头和磁场探头组、频谱分析仪和计算机构成；电场探头和磁场探头组可以在工作台上方三维移动；电场探头和磁场探头组交替连接频谱分析仪输入端，频谱分析仪的输出端接计算机。诊断步骤：将被测电路平面区域划分为若干辐射干扰单元；确定辐射电／磁场精测频段。辐射干扰单元辐射干扰精测，根据辐射电／磁场精测频段调整频谱分析仪的扫描频段，分别用电／磁场探头依次测量各辐射干扰单元的电平值，计算各辐射干扰单元的辐射电／磁场强度。本发明实验台结构简单、成本低。本发明方法能快速简便地检测出电子系统的辐射EMI噪声种类，为辐射EMI噪声抑制方案提供理论依据。
本发明公开了一种诊断辐射EMI机理的实验台及简易诊断方法，实验台由工作台、电场探头和磁场探头组、频谱分析仪和计算机构成；电场探头和磁场探头组可以在工作台上方三维移动；电场探头和磁场探头组交替连接频谱分析仪输入端，频谱分析仪的输出端接计算机。诊断步骤：将被测电路平面区域划分为若干辐射干扰单元；确定辐射电／磁场精测频段。辐射干扰单元辐射干扰精测，根据辐射电／磁场精测频段调整频谱分析仪的扫描频段，分别用电／磁场探头依次测量各辐射干扰单元的电平值，计算各辐射干扰单元的辐射电／磁场强度。本发明实验台结构简单、成本低。本发明方法能快速简便地检测出电子系统的辐射EMI噪声种类，为辐射EMI噪声抑制方案提供理论依据。
