[01130457]一种JFET器件及其制造方法
交易价格:
面议
所属行业:
其他电气自动化
类型:
非专利
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资料待完善
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技术详细介绍
本发明涉及半导体技术,具体的说是涉及一种JFET器件及其制造方法。本发明的JFET器件,其特征在于,所述P+栅极区1的结深为不均匀的,从靠近N+漏极区2的一端到靠近N+源极区3的一端P+栅极区1的结深逐渐增加。本发明的有益效果为,恒流特性较好,能够满足更小恒流精度的需求。本发明尤其适用于JFET器件及其制造。本发明涉及半导体技术,具体的说是涉及一种JFET器件及其制造方法。本发明的JFET器件,其特征在于,所述P+栅极区1的结深为不均匀的,从靠近N+漏极区2的一端到靠近N+源极区3的一端P+栅极区1的结深逐渐增加。本发明的有益效果为,恒流特性较好,能够满足更小恒流精度的需求。本发明尤其适用于JFET器件及其制造。
本发明涉及半导体技术,具体的说是涉及一种JFET器件及其制造方法。本发明的JFET器件,其特征在于,所述P+栅极区1的结深为不均匀的,从靠近N+漏极区2的一端到靠近N+源极区3的一端P+栅极区1的结深逐渐增加。本发明的有益效果为,恒流特性较好,能够满足更小恒流精度的需求。本发明尤其适用于JFET器件及其制造。本发明涉及半导体技术,具体的说是涉及一种JFET器件及其制造方法。本发明的JFET器件,其特征在于,所述P+栅极区1的结深为不均匀的,从靠近N+漏极区2的一端到靠近N+源极区3的一端P+栅极区1的结深逐渐增加。本发明的有益效果为,恒流特性较好,能够满足更小恒流精度的需求。本发明尤其适用于JFET器件及其制造。