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[01113819]锥束CT扫描中的曝光参数快速获取与优化方法

交易价格: 面议

所属行业: 软件

类型: 非专利

交易方式: 资料待完善

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对所交付的所有资料进行保密
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技术详细介绍

本发明公开了一种锥束CT扫描中的曝光参数快速获取与优化方法,将零件放置于旋转工作台,并使零件在该投影方位时X射线需要穿越零件的厚度最大;选择当前零件所属的零件类型、选择探测器采集投影图像的速度、设置射线穿越零件的预期最低灰度值、选择曝光优化方式;根据以上设置进行曝光参数搜索,若得到满足曝光要求的一组电流电压组合参数则结束,否则表示当前使用的锥束CT系统无法对该零件进行所要求的曝光,立即中止整个扫描。本发明可显著减少获取锥束CT系统曝光参数所需的时间,并使获取的曝光参数达到一定的优化效果,可有效降低甚至消除锥束CT扫描对操作人员专业技术经验的依赖性。
本发明公开了一种锥束CT扫描中的曝光参数快速获取与优化方法,将零件放置于旋转工作台,并使零件在该投影方位时X射线需要穿越零件的厚度最大;选择当前零件所属的零件类型、选择探测器采集投影图像的速度、设置射线穿越零件的预期最低灰度值、选择曝光优化方式;根据以上设置进行曝光参数搜索,若得到满足曝光要求的一组电流电压组合参数则结束,否则表示当前使用的锥束CT系统无法对该零件进行所要求的曝光,立即中止整个扫描。本发明可显著减少获取锥束CT系统曝光参数所需的时间,并使获取的曝光参数达到一定的优化效果,可有效降低甚至消除锥束CT扫描对操作人员专业技术经验的依赖性。

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