[01064643]高精度光电自动干涉法折射率测定仪
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技术详细介绍
该成果所研制仪器能测定一切透明材料的折射率，包括单轴或双轴晶体，且对材料的折射率大小无限制，对待测样品要求，仅需一对平行通光面即可。其精密度已达１０＜＇－４＞量级，且据理论分析，该方法可望达到１０＜＇－５＞，即有６位有效数据。该仪器结构新颖、测试方法有独创性，并由于采用同光路干涉仪模式，仪器抗振性能良好，数据重复性良好，干涉条纹稳定。仪器还能测试材的色散、厚度和连续激光的波长（精度达１０＜＇－２＞～１０＜＇－３＞ｍｍ），而它的体积、重量及造价则远远低于同样精密度的单色仪或光谱仪。而稍加改进后，又能测电光系统、磁光系数等。该仪器工作全部由计算机控制、自动记录、计算、显示和打印。